高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要針對電工.電子產(chǎn)品及其原始設(shè)備，及其他材料在溫度急劇變化的環(huán)境中儲(chǔ)存.使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要用于根據(jù)國家軍用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定要求，在高溫、低溫瞬時(shí)變化的條件下，環(huán)境模擬試驗(yàn)產(chǎn)品的物理特性及其它相關(guān)特性，經(jīng)檢驗(yàn)后，判定產(chǎn)品性能，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中是否仍能滿足預(yù)定的要求.改進(jìn).鑒定和出廠檢驗(yàn)。

　　低溫和熱震產(chǎn)生的溫度故障現(xiàn)象

 

　　為確保電子產(chǎn)品有較高的可靠性，除進(jìn)行相對固定的溫度、濕度試驗(yàn)外，隨著產(chǎn)品的耐濕性提高，對溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的要求也不斷增加，具體表現(xiàn)為：

 

　　1.為降低成本，采用新材料、新工藝;

 

　　2.整機(jī)小型化，使部件更易加熱;

 

　　3.在加工過程中，元件可能受到嚴(yán)重?zé)釕?yīng)力的影響，如：使用焊錫焊時(shí);

 

　　4.由于產(chǎn)品精度要求，使元件不斷遭受較大的熱應(yīng)力;

 

　　5.隨著便攜電子產(chǎn)品的普及，產(chǎn)品使用環(huán)境變得越來越復(fù)雜.要求越來越高;

 

　　6.對可靠性的要求不斷提高。

 

　　冷熱沖擊不同于一般濕熱環(huán)境，它是在常溫條件下，通過冷、熱震作用，很難發(fā)現(xiàn)的潛在故障。影響冷、溫沖擊試驗(yàn)的各種因素包括：試驗(yàn)溫度范圍、接觸時(shí)間.循環(huán)次數(shù)、試樣重量、熱負(fù)荷等。